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高低溫PCIE老化柜

?性能指標(biāo)符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2423.22-2012  環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：  試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：  溫度變化；

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：  試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：  高溫。

4.1.14  設(shè)備需支持 SECS/GEM 協(xié)議

4.1.15 MTBA  (平均故障間隔周期)

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SSD固態(tài)硬盤快速溫變測(cè)試機(jī)
?SSD固態(tài)硬盤快速溫變測(cè)試機(jī),SSD固態(tài)環(huán)境測(cè)試箱,SSD快速溫變?cè)囼?yàn)箱,ssd...

SSD高低溫老化試驗(yàn)箱

?性能指標(biāo)符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2423.22-2012  環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：  試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：  溫度變化；

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：  試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：  高溫。

4.1.14  設(shè)備需支持 SECS/GEM 協(xié)議

4.1.15 MTBA  (平均故障間隔周期)

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