?性能指標(biāo)符合以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第 2 部分: 試驗方法 試驗 N: 溫度變化;
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分: 試驗方法 試驗 B: 高溫。
4.1.14 設(shè)備需支持 SECS/GEM 協(xié)議
4.1.15 MTBA (平均故障間隔周期)
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?高低溫PCIE老化柜,恒溫PCIE老化箱,高低溫PCIE老化箱,高低溫PCIE ? ? ? ? ? ??? ? ?? ? ? |
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