?性能指標符合以下標準:
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第 2 部分: 試驗方法 試驗 N: 溫度變化;
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分: 試驗方法 試驗 B: 高溫。
4.1.14 設備需支持 SECS/GEM 協(xié)議
4.1.15 MTBA (平均故障間隔周期)
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?SSD高低溫老化試驗箱,SSD高低溫箱,線路板專用高溫箱 ?SSD專用高低溫試驗箱,ssd高溫老化柜,SSD試驗機,SSD高溫檢測箱,SSD恒溫恒濕箱 ? ? ? ??? ? ?? ? ? |
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